這款四點探針系統用于快速測量材料的片電阻、電阻率和電導率。四點探針系統包括一個四點探針、源測量單元和易于使用的PC軟件。
該四點探針系統不適用于測量形成天然絕緣氧化物（如硅）的材料的性能。
四點探針系統特點
寬電流范圍-四點探針能夠提供10毫安到150毫安之間的電流，并且可以測量低至100μV到10 V的電壓。該系統可以測量100 mΩ/□到10 mΩ/□范圍內的片電阻，從而能夠描述各種材料的特性。
易于使用-只需插入系統，安裝軟件，你就可以開始了！直觀的界面和簡潔的設計使四點探針易于使用，簡化了對薄板電阻的測量。可以使用各種形狀和尺寸的基底。
高精度-正負極性測量可以使用PC軟件進行。這使您能夠計算正負電流之間的平均片電阻-消除可能發生的任何電壓偏移，從而提高測量精度。
無損檢測-設計時考慮到精密樣品的測量，四點探針頭采用鍍金、柔和的彈簧加載觸點和圓形。這將產生60克的恒定接觸力，防止探針穿透易碎的薄膜，同時仍然提供良好的電接觸。
節省空間的設計-通過仔細的設計考慮，我們能夠將四點探頭的占地面積保持在最小（總工作臺面積為14.5 cm x 24 cm），即使在缺乏貨架空間的繁忙實驗室也可以使用。
快速材料表征-PC軟件（包括在系統中）執行所有必要的測量和計算薄板電阻，電阻率和導電性-使材料表征毫不費力。它還自動執行校正系數計算。
Measurement Specifications
| Voltage range | ±100 μV to ±10 V |
| Current range | ±1 μA to ±150 mA |
| Sheet resistance range | 100 mΩ/□ to 10 MΩ/□ (ohms per square) |
| Sheet Resistance | Accuracy* | Precision | Measured at Range |
| 100 mΩ/□ | ±8% | ±3% | 1 |
| 1 Ω/□ | ±2% | ±0.5% | 1 |
| 10 Ω/□ | ±1% | ±0.5% | 1 |
| 100 Ω/□ | ±1% | ±0.05% | 2 |
| 1 kΩ/□ | ±1% | ±0.03% | 2 |
| 10 kΩ/□ | ±1% | ±0.02% | 3 |
| 100 kΩ/□ | ±2% | ±0.05% | 4 |
| 1 MΩ/□ | ±8% | ±0.5% | 5 |
| 10 MΩ/□ | ±30% | ±5% | 5 |
*Accuracy is the maximum deviation from the true value.
Precision is the maximum deviation between identical measurements (useful for comparative measurements).
Physical Specifications
| Probe Spacing | 1.27 mm |
| Rectangular Sample Size Range | Long Edge Minimum: 5 mm Short Edge Maximum: 60 mm
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| Circular Sample Size Range (Diameter) | 5 mm to 76.2 mm |
| Maximum Sample Thickness | 10 mm |
| Overall Dimensions | Width: 145 mm Height: 150 mm Depth: 240 mm
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