FR-pOrtable是白熾-LED混合集成式光源系統(tǒng),通過內(nèi)嵌式微處理器控制,使用壽命超過20000小時。小型光譜儀,光譜范圍370nm –1020nm,分辨精度可達3648像素,16位級A/D分辨精度;配有USB通訊接口;可對透明和半透明的單個薄膜或薄膜疊層進行精確,精確的
無損表征。FR-pOrtable的緊湊設計保證了測量的高度準確性和可重復性。FR-pOrtable既可以安裝在提供的平臺上,也可以輕松轉換為手持式厚度測量工具,以放置在表征區(qū)域上。這樣,F(xiàn)R-pOrtable是用于現(xiàn)場應用的光學表征工具??梢詼y量反射率,透射率,吸收率和顏色參數(shù)。
FR-Monitor膜厚測試軟件系統(tǒng),可精確計算如下參數(shù):
1)單一或堆積膜層的厚度;
2)靜態(tài)或動態(tài)模式下,單一膜層的折射率;本軟件包含了類型豐富的材料折射率數(shù)據(jù)庫,可以有效地協(xié)助用戶進行線下或者在線測試分析。本系統(tǒng)可支持吸收率,透射率和反射率的測量,還提供任何堆積膜層的理論性反射光譜,一次使用,即可安裝在任何其他電腦上作膜厚測試后的結果分析使用。
參考樣片:
1)經(jīng)校準過的反射標準硅片;
2)經(jīng)校準過的帶有SiO2/Si 特征區(qū)域的樣片;
3)經(jīng)校準過的帶有Si3N4/SiO2/Si特征區(qū)域的樣片;
4)反射探針臺和樣片夾具:
可處理的樣品尺寸達200mm, 包含不規(guī)則的尺寸等;
手動調(diào)節(jié)可測量高度可達50mm;
可針對更大尺寸訂制樣片夾具;
反射率測量的光學探針:
內(nèi)嵌系統(tǒng)6組透射光探針200μm, 1組反射光探針200μm;
附件:
FR-portable透射率測量套件;
技術參數(shù):
Thickness measurement range | 12nm – 90μm |
Refractive Index calculation | P |
Thickness measurement Accuracy | 0.2% or 1nm |
Thickness measurement Precision | 0.04nm or 1‰ (0.01nm) |
Thickness measurement stability | 0.02nm |
Sample size | 1mm to 200mm and up |
Spectral Range | 400nm – 1100nm |
Working distance | 3mm-20mm |
Spot size | 0.35mm (diameter of the reflectance area) |
Light Source Lifetime | 20000h |
Wavelength resolution | 0.8nm |
Number of Layers Measured | Max. 5 layers |
Measurement time (max acquisition speed) | 10ms/point |
A/D converter | 16 bit |
Power | USB – supplied |
Dimensions | 300mm x 110mm x 40mm |








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