MPS-C-350 是一個可以將樣品放在可控三維磁場進行測試的探針臺。 MicroXact的設(shè)計使自旋電子器件、納米電子器件和許多其他材料和器件的晶圓級測試成為可能。
電子儀表電子五金件低溫磁場三維磁場探針臺
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MPS-C-350是一個可以將樣品放在可控三維磁場進行測試的探針臺
MPS-C-350 是一個可以將樣品放在可控三維磁場進行測試的探針臺。 MicroXact的設(shè)計使自旋電子器件、納米電子器件和許多其他材料和器件的晶圓級測試成為可能。
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