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MPI的TS2000-HP半自動化探針臺測試系統(tǒng)可提供8英寸及以下晶圓器件的高功率測量，*的ShielDEnvironment™可提供低噪聲和屏蔽的測試環(huán)境。
專為高電壓和大電流量測應(yīng)用而設(shè)計
? 適合至高 10kV / 600A （脈沖）的晶圓級高功率組件量測
? 提供載片下的高功率動、靜態(tài)參數(shù)的測試
? 晶圓載物臺表面鍍金，最小化接觸電阻；真空吸孔優(yōu)化，適合裝載至薄 50 µm 的薄晶圓
? 可選配搭載 Taiko 晶圓載物臺
? 提供抗電弧解決方案
MPI ShielDEnvironment™ 屏蔽環(huán)境
? 專為 EMI / RFI / Light-Tight 屏蔽所設(shè)計的精密量測環(huán)境
? 支援飛安級低漏電值量測
? 溫度量測范圍 -60 °C to 300 °C