國產(chǎn)臺式X熒光測厚儀Ux-720探測系統(tǒng)
功能:對樣品特征X射線進(jìn)行探測,將采集來的信號進(jìn)行數(shù)據(jù)處理,并將處理結(jié)果傳輸給計(jì)算機(jī)。
類型:Si-PIN X-123(美國)
Be窗 1mil()
分辨率:145±5eV
系統(tǒng)峰背比:≥ 6200/1
能量響應(yīng)范圍:1keV — 40keV
推薦計(jì)數(shù)率:5000cps
Ux-720 精密鍍層分析儀X射線熒光光譜儀是華唯公司經(jīng)過3年研發(fā),專門針對金屬合金、鋁型材、塑料等材料鍍層分析、達(dá)克羅涂覆層分析的普及機(jī)型,三重射線防護(hù)系統(tǒng);人性化操作界面;華唯的VisualFp基本參數(shù)法分析軟件,可盲測(即:無需標(biāo)準(zhǔn)樣品標(biāo)定),即可對客戶樣品鍍層膜厚測試、基材成分分析,降低客戶購買標(biāo)準(zhǔn)樣品(尤其是特殊樣品)成本。精心設(shè)計(jì)的開放式工作曲線功能,特別適用于工藝復(fù)雜材料的工廠鍍層、涂層的制程控制。
X射線和β射線法是無接觸無損測量,測量范圍較小,X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測厚時(shí)采用。
Ux-720微動平臺
載物測試平臺,微調(diào)裝置在儀器右側(cè),通過旋轉(zhuǎn)按鈕來調(diào)節(jié)樣品的移動,移動范圍為X軸和Y軸各15mm。結(jié)合260萬像素的高清CCD,對測試樣品進(jìn)行定位,防止樣品放置好后關(guān)閉樣品蓋產(chǎn)生振動而使測試位置發(fā)生變化導(dǎo)致測試不準(zhǔn)確。













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