X射線和β射線法是無接觸無損測量，測量范圍較小，X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。
Ux-720 性能優勢
1.的VisualFp基本參數法分析軟件，可不用標準樣品標定，即對樣品鍍層膜厚進行測試。
2.除可對金屬鍍層測試外，還可對合金鍍層、鋁合金鍍層、玻璃鍍層、塑料鍍層進行測量，開創了XRF對鍍層測厚的全面技術。
3.軟件可根據樣品材質、形狀和大小自動設定光管功率，既能延長光管使用壽命又能充分發揮探測器性能，大幅提高測量精度。
4.業內提供開放式工作曲線標定平臺,可為每家用戶量身定做的鍍層分析工作曲線。
5.三重射線防護（軟件、硬件、迷宮設計），確保操作人員人身安全與意外操作帶來的輻射傷害。
6.儀器外部對樣品微調設計，降低及防止樣品放置好后關閉樣品蓋產生振動而使測試位置發生變化導致的測試不準確性。
7.可根據用戶要求自行定制測試報告輸出格式（Excel、PDF等），符合工廠多種統計及格式要求。
8.業內家對達克羅涂覆工藝厚度分析的軟件方法，取代金相顯微鏡技術在該行業的應用。
9.軟件對多次測試結果進行統計分析功能。
10.業內家既可以測試鍍層厚度，又可以同時分析基材及鍍層成分的XRF。
Ux-720高效三維散熱系統，大幅度提供儀器的可靠性、穩定性。三重射線防護系統（軟件、硬件、迷宮式設計），開蓋測試自動警示系統。
Ux-720濾光系統和準直系統
濾光系統采用金屬薄片濾光技術，5種不同材質濾光片自動切換。
準直系統采用微孔準直技術, Φ、Φ1mm、Φ2mm、Φ4mm四種孔徑自動切換。
濾光系統和準直系統經過自由組合達到測試效果。
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