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　　鍍層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要環(huán)節(jié)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必要手段。為使產(chǎn)品國際化，我國出口商品和涉外項目中，對鍍層厚度有了明確要求。

　　隨著技術(shù)的日益進(jìn)步，特別是近年來引入微機(jī)技術(shù)后，采用X射線鍍層測厚儀 向微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向進(jìn)了一步。測量的分辨率已達(dá)微米，精度可達(dá)到1%，有了大幅度的提高。它適用范圍廣，量程寬、操作簡便且價廉，是工業(yè)和科研使用廣泛的測厚儀器。

　　鍍層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。

　　Ux-720探測系統(tǒng)

　　功能：對樣品特征X射線進(jìn)行探測，將采集來的信號進(jìn)行數(shù)據(jù)處理，并將處理結(jié)果傳輸給計算機(jī)。

　　類型：Si-PIN X-123(美國)

　　Be窗 1mil()

　　分辨率：145±5eV

　　系統(tǒng)峰背比：≥ 6200/1

　　能量響應(yīng)范圍：1keV — 40keV

　　推薦計數(shù)率：5000cps