X熒光光譜儀Ux-720探測系統(tǒng)
功能:對樣品特征X射線進行探測,將采集來的信號進行數(shù)據(jù)處理,并將處理結(jié)果傳輸給計算機。
類型:Si-PIN X-123(美國)
Be窗 1mil()
分辨率:145±5eV
系統(tǒng)峰背比:≥ 6200/1
能量響應(yīng)范圍:1keV — 40keV
推薦計數(shù)率:5000cps
Ux-720 精密鍍層分析儀X射線熒光光譜儀是華唯公司經(jīng)過3年研發(fā),專門針對金屬合金、鋁型材、塑料等材料鍍層分析、達克羅涂覆層分析的普及機型,三重射線防護系統(tǒng);人性化操作界面;華唯的VisualFp基本參數(shù)法分析軟件,可盲測(即:無需標準樣品標定),即可對客戶樣品鍍層膜厚測試、基材成分分析,降低客戶購買標準樣品(尤其是特殊樣品)成本。精心設(shè)計的開放式工作曲線功能,特別適用于工藝復(fù)雜材料的工廠鍍層、涂層的制程控制。
鍍層厚度的測量方法主要有:楔切法,光截法,電解法,厚度差測量法,稱重法,X射線熒光法,β射線反向散射法,電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中前五種是有損檢測,測量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗。
Ux-720 性能優(yōu)勢
1.的VisualFp基本參數(shù)法分析軟件,可不用標準樣品標定,即對樣品鍍層膜厚進行測試。
2.除可對金屬鍍層測試外,還可對合金鍍層、鋁合金鍍層、玻璃鍍層、塑料鍍層進行測量,開創(chuàng)了XRF對鍍層測厚的全面技術(shù)。
3.軟件可根據(jù)樣品材質(zhì)、形狀和大小自動設(shè)定光管功率,既能延長光管使用壽命又能充分發(fā)揮探測器性能,大幅提高測量精度。
4.業(yè)內(nèi)提供開放式工作曲線標定平臺,可為每家用戶量身定做的鍍層分析工作曲線。
5.三重射線防護(軟件、硬件、迷宮設(shè)計),確保操作人員人身安全與意外操作帶來的輻射傷害。
6.儀器外部對樣品微調(diào)設(shè)計,降低及防止樣品放置好后關(guān)閉樣品蓋產(chǎn)生振動而使測試位置發(fā)生變化導(dǎo)致的測試不準確性。
7.可根據(jù)用戶要求自行定制測試報告輸出格式(Excel、PDF等),符合工廠多種統(tǒng)計及格式要求。
8.業(yè)內(nèi)家對達克羅涂覆工藝厚度分析的軟件方法,取代金相顯微鏡技術(shù)在該行業(yè)的應(yīng)用。
9.軟件對多次測試結(jié)果進行統(tǒng)計分析功能。
10.業(yè)內(nèi)家既可以測試鍍層厚度,又可以同時分析基材及鍍層成分的XRF。















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