北京探針測(cè)試臺(tái)（英文叫Prober station,中文又稱(chēng)中測(cè)臺(tái),點(diǎn)測(cè)機(jī)。）、與測(cè)試儀器配接后可用于集成電路芯片及各種晶體管芯的電參數(shù)測(cè)試及功能調(diào)試，適用于科研、新品試制及小批量生產(chǎn)的中間測(cè)試。
探針測(cè)試臺(tái) 中測(cè)臺(tái) 點(diǎn)測(cè)機(jī)
型號(hào)：SN/ST-102B
北京探針測(cè)試臺(tái)（英文叫Prober station,中文又稱(chēng)中測(cè)臺(tái),點(diǎn)測(cè)機(jī)。)、與測(cè)試儀器配接后可用于集成電路芯片及各種晶體管芯的電參數(shù)測(cè)試及功能調(diào)試，適用于科研、新品試制及小批量生產(chǎn)的中間測(cè)試。
北京探針測(cè)試臺(tái)（英文叫Prober station,中文又稱(chēng)中測(cè)臺(tái),點(diǎn)測(cè)機(jī)。)、與測(cè)試儀器配接后可用于集成電路芯片及各種晶體管芯的電參數(shù)測(cè)試及功能調(diào)試，適用于科研、新品試制及小批量生產(chǎn)的中間測(cè)試。
| 技 術(shù) 指 標(biāo) ： |
工作臺(tái)面 | 370mm245mm | 載物臺(tái)直徑 | 4" | 光學(xué)參數(shù) | 總放大率：21-135倍；手輪調(diào)焦范圍：60mm；升降調(diào)焦范圍：200mm； | 精密旋轉(zhuǎn)臺(tái) | 粗調(diào)范圍：360°；微調(diào)范圍：±10°；zui小刻劃：1°；
銅盤(pán)直徑：Φ85mm；絕緣盤(pán)直徑：Φ102mm | 三維探針座 | 探針座X、Y、Z方向調(diào)節(jié)范圍：±3.25mm，分辨率±2μ；
三維探針座在工作臺(tái)面可任意位置固定，由磁性開(kāi)關(guān)控制；
zui多可布三維探針座6個(gè)；
探針臂伸出長(zhǎng)度：60mm；
探針長(zhǎng)度：40mm； | 探針 | 探針材質(zhì)硬質(zhì)合金，針尖曲率半徑2μm； |
|
標(biāo)準(zhǔn)配置：主工作臺(tái)、CCD攝像頭、監(jiān)視器、三維微調(diào)座2個(gè)、探針臂2支、探針2支。
可選配件：三維微調(diào)架、探針臂、探針、真空泵。
可按用戶(hù)的實(shí)際需求進(jìn)行訂做。 |
| 技 術(shù) 指 標(biāo) ： |
工作臺(tái)面 | 370mm245mm | 載物臺(tái)直徑 | 4" | 光學(xué)參數(shù) | 總放大率：21-135倍；手輪調(diào)焦范圍：60mm；升降調(diào)焦范圍：200mm； | 精密旋轉(zhuǎn)臺(tái) | 粗調(diào)范圍：360°；微調(diào)范圍：±10°；zui小刻劃：1°；
銅盤(pán)直徑：Φ85mm；絕緣盤(pán)直徑：Φ102mm | 三維探針座 | 探針座X、Y、Z方向調(diào)節(jié)范圍：±3.25mm，分辨率±2μ；
三維探針座在工作臺(tái)面可任意位置固定，由磁性開(kāi)關(guān)控制；
zui多可布三維探針座6個(gè)；
探針臂伸出長(zhǎng)度：60mm；
探針長(zhǎng)度：40mm； | 探針 | 探針材質(zhì)硬質(zhì)合金，針尖曲率半徑2μm； |
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標(biāo)準(zhǔn)配置：主工作臺(tái)、CCD攝像頭、監(jiān)視器、三維微調(diào)座2個(gè)、探針臂2支、探針2支。
可選配件：三維微調(diào)架、探針臂、探針、真空泵。
可按用戶(hù)的實(shí)際需求進(jìn)行訂做。 |
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