單晶少子壽命測(cè)試儀 非平衡少數(shù)載流子壽命測(cè)試儀
型號(hào):SN/LT-3
.北京單晶少子壽命測(cè)試儀該儀器參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的用于 測(cè)量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命;
.測(cè)試單晶電阻率范圍: >0.3Ω.cm;
.可測(cè)單晶少子壽命范圍: 1μS-10000μS;
.北京單晶少子壽命測(cè)試儀配備光源類(lèi)型:紅外光源,波長(zhǎng):1.09μm;
余輝<1 μS;閃光頻率為:20-30次/秒;
.前置放大器:放大倍數(shù)約25;
.北京單晶少子壽命測(cè)試儀測(cè)量方式:采用對(duì)標(biāo)準(zhǔn)曲線(xiàn)讀數(shù)方式;.該儀器參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的用于 測(cè)量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命;
.測(cè)試單晶電阻率范圍: >0.3Ω.cm;
.可測(cè)單晶少子壽命范圍: 1μS-10000μS;
.配備光源類(lèi)型:紅外光源,波長(zhǎng):1.09μm;
余輝<1 μS;閃光頻率為:20-30次/秒;
.前置放大器:放大倍數(shù)約25;
.測(cè)量方式:采用對(duì)標(biāo)準(zhǔn)曲線(xiàn)讀數(shù)方式;.該儀器參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的用于 測(cè)量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命;
.測(cè)試單晶電阻率范圍: >0.3Ω.cm;
.可測(cè)單晶少子壽命范圍: 1μS-10000μS;
.配備光源類(lèi)型:紅外光源,波長(zhǎng):1.09μm;
余輝<1 μS;閃光頻率為:20-30次/秒;
.前置放大器:放大倍數(shù)約25;
.測(cè)量方式:采用對(duì)標(biāo)準(zhǔn)曲線(xiàn)讀數(shù)方式;.該儀器參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的用于 測(cè)量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命;
.測(cè)試單晶電阻率范圍: >0.3Ω.cm;
.可測(cè)單晶少子壽命范圍: 1μS-10000μS;
.配備光源類(lèi)型:紅外光源,波長(zhǎng):1.09μm;
余輝<1 μS;閃光頻率為:20-30次/秒;
.前置放大器:放大倍數(shù)約25;
.測(cè)量方式:采用對(duì)標(biāo)準(zhǔn)曲線(xiàn)讀數(shù)方式;.該儀器參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的用于 測(cè)量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命;
.測(cè)試單晶電阻率范圍: >0.3Ω.cm;
.可測(cè)單晶少子壽命范圍: 1μS-10000μS;
.配備光源類(lèi)型:紅外光源,波長(zhǎng):1.09μm;
余輝<1 μS;閃光頻率為:20-30次/秒;
.前置放大器:放大倍數(shù)約25;
.測(cè)量方式:采用對(duì)標(biāo)準(zhǔn)曲線(xiàn)讀數(shù)方式;












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