納米顆粒動態跟蹤分析儀能夠測量納米顆粒濃度,測量納米顆粒粒徑分布,測量顆粒動力學過程,追蹤分析液體中的顆粒,并且能夠對粒徑范圍10nm 到2um的顆粒同時分析,并可追蹤單個納米顆粒進行單個顆粒分析。
納米顆粒動態跟蹤分析儀特點
可視化納米顆粒
并可重復測量顆粒數濃度
粒度平均分布甚至高度分散樣品
粒子動力學過程，如：
粒子聚集，溶解，溶脹，增長和收縮率。
納米顆粒動態跟蹤分析儀規格
| 粒度測量范圍* | 10nm～2μM |
| 標準樣品體積 | 350μl ~1ml |
| 標準樣品濃度 | 5 x 106~2 x 108顆粒/ml |
| 樣品溫度范圍（控制） | 10°C ~50 ℃，±0.1 ℃ |
| 尺寸 | 55cm（長）x 66cm（寬）x 35cm（高） |
| 重量 | 27kg |
| 運行環境 | 15°C ~30°C，＜85% RH |
*可檢測顆粒大小取決于顆粒材料的折射率和溶劑
納米顆粒動態跟蹤分析儀應用
| 電池 | 環境科學 | 顏料和油墨 |
| 催化劑 | 外分泌體，微泡和其他生物顆粒 | 聚合物 |
| 化學機械拋光 | 湖沼學 | 蛋白質聚體 |
| 化妝品 | 金屬粉末 | 半導體 |
| 生態毒理學 | 海洋學 | 病毒 |
| 能源 | 藥物 | 水質和水處理 |
納米顆粒動態跟蹤分析儀技術背景
你有沒有想過：
如果使用動態光散射（DLS）系統，能夠給你真實反應出粒徑分布？
在透射電子顯微鏡（TEM）樣品制備過程中，又會改變多少你的納米粒子？
為什么傳統的納米粒子跟蹤分析（NTA）不能提供準確可重復的結果？
以下這些令你受挫：
樣品制備的困難和不便，電子顯微鏡技術的使用成本？
當測量多分散樣品的DLS或常規NTA時得到不確定的結果？
使用曲線擬合算法時，在粒子測量上添加不必要的元素？
基于靜電光散射方法的需要，做出關鍵假設得到不確定結果？
顆粒表征技術涉及分離，如FFF繁瑣的方法嗎？
用DLS無法測量粒子數濃度？
你曾說：“必須有一個更好的辦法"？
如果你對于上述任何一種情況的回答是：是。你應該更清楚納米粒徑動態跟蹤分析儀的納米粒子跟蹤分析技術是可視化和準確測量納米粒子更好的方式，以及與其他常用的納米粒子分析技術實例比較得到的結果。
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