| 數字集成電路測試儀 功 能 參 數 | ||
| 測試對象及測試功能： 測試對象： TTL、CEL、COMS、NMOS及其他類型的MSI/LSI器件，包括微處理器、微控制器、配套的外圍品件、靜態及動態RAM、PROM、EPROM和一定范圍內的集成電路。 測試功能： 真值表功能測試，直流參數測試 適用范圍 1.半導體器件生產廠家的生產測試（中測和成測） 2.整機廠、研究單位的器件驗收測試及其他各種應用測試。 ＊測試速率：２ＭＨz ?。獪y試通道數：４８ ＊接口：具有計算機通用外設接口，串行Ｒ２３２通信接口，ＩＥＥ－４８８儀器接口，自動中測臺、自動上料器接口。 ?。獞密浖饕ǎ合到y的診斷、校準包；測試程序庫。 BJ3140 現有測試程序 74LS系列： 00, 01, 02, 03, 04, 05, 08, 09, 10, 11, 12, 13, 15, 20, 27, 30, 32, 42, 47, 74, 75, 78a, 83a, 85, 86, 92, 93, 107, 109, 112, 113, 114, 123, 123s, 125, 126, 132, 133, 138, 139, 148, 151, 153, 155, 156, 157, 158, 161, 163, 163k, 164, 173, 174, 175, 181, 190, 193, 194, 195, 197, 221, 221s, 240, 241, 244, 245, 251, 253, 257, 258, 259, 260, 273, 279, 280, 299, 353, 367a, 373, 374, 393, 393a, 541, 574. 74S系列： 03, 05, 08, 09, 10, 11, 32, 40, 64, 86f, 114, 133, 138, 139, 151, 153, 157, 163-2, 181, 201, 241, 244, 251, 280, 299, 373. 74系列： 00, 01, 02, 03, 04, 05, 08, 09, 10, 12, 13, 14, 16, 17, 20, 22, 23, 25, 26, 27, 28, 30, 32, 37, 38, 40, 42a, 45, 50, 53, 54, 60, 74, 75, 76, 80, 100, 107, 122, 125, 151a, 153, 154, 156, 163, 176, 182, 195, 196, 221, 251, 265, 273, 276, 278, 279, 283, 293, 298, 367. 74HC系列： 00, 04, 161, 573. 54LS系列： 02，03，04，05，08，09，10，11，12，251． 54S系列： 02, 03, 04, 05, 08, 09, 10, 11. 54HC系列： 221, 241, 393, 51, 76 4000系列: 00, 01, 02, 07ub, 08, 09ub, 10, 11, 11a, 13, 15, 17, 18, 19 20, 21, 22, 23, 24, 25, 26 其他： 8088, 8088c, 8212, 8214, 8216, 8226, 8228, 8238, 8253, 8255, 8259, 8259a, 8279, 8282, 8283, 8286, 8287, 8288, 82-c83, 6264, 8287, 2167, 2167-1, pyd76, s74138a, s74157, s74193. |
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