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透射電子顯微鏡下與結構畸變有關的調幅結構

2022年11月06日 17:11:34      來源:上海蒲柘光電儀器有限公司 >> 進入該公司展臺      閱讀量:24

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葉蛇紋石(成分為Mg3-xSi20(0H)。-2x)(晶體顯微鏡)的波狀結構是調幅結構的具體表現,這是由于八面體氫氧層與四面體硅氧層間結構的不相稱(差異)引起的(圖6.17)。這些正弦波狀的畸變區域的寬度常大于4nm。在高分辨率透射電子顯微鏡下,可以很容易觀察到這種結構的圖像。圖6.18顯示了葉蛇紋石的規則調幅結構,其調幅波長為4.5~5nm,調幅方向是垂直于c”軸的黑帶。
上海蒲柘光電金相顯微鏡
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