美國CMI 900 X-射線熒光鍍層厚度測量儀
CMI900 X-RAY的原理
X射線熒光（XRF）儀器由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激勵被測樣品。樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量。然后，儀器軟件將探測系統所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量。
利用X射線熒光原理，理論上可以測量元素周期表中的每一種元素。在實際應用中，有效的元素測量范圍為22號元素（鈦Ti）到92號元素（鈾U）。
X射線熒光（XRF）儀器由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激勵被測樣品。樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量。然后，儀器軟件將探測系統所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量。
利用X射線熒光原理，理論上可以測量元素周期表中的每一種元素。在實際應用中，有效的元素測量范圍為22號元素（鈦Ti）到92號元素（鈾U）。
X射線熒光的物理意義：
X射線是電磁波譜中的某特定波長范圍內的電磁波，其特性通常用能量（單位：千電子伏特，keV）和波長（單位：鈉米，nm）描述。X射線熒光是原子內產生變化所致的現象。一個穩定的原子結構由原子核及核外電子組成。這些核外電子圍繞著原子核按不同軌道運轉，它們按不同的能量分布在不同的電子殼層：分布在同一殼層的電子具有相同的能量。
當具有高能量的入射（一次）X射線與原子發生碰撞時，會打破原子結構的穩定性。處于低能量電子殼層（如：K層）的電子更容易被激發而從原子中逐放出來，電子的逐放會導致該電子殼層出現相應的電子空位。這時處于高能量電子殼層的電子（如：L層）會躍遷到該低能量電子殼層來補充相應的電子空位。由于不同電子殼層之間存在著能量差距，這些能量上的差以二次X射線的形式釋放出來，不同的元素所釋放出來的二次X射線具有特定的能量特性。儀器通過探測不同的元素所釋放出來的二次X射線具有特定的能量特性，進行分析計算得到各鍍層厚度，這一個過程就是我們所說的X射線熒光測厚。
應用
X射線熒光鍍層測厚儀，有著快速，準確，非破壞，非接觸，多層合金測量，高生產力，高再現性等優點的情況下進行表面鍍層厚度的測量，從質量管理到成本節約有著廣泛的應用
行業
用于電子元器件，半導體，PCB，汽車零部件，功能性電鍍，裝飾件，連接器……多個行業表面鍍層厚度的測量
聯系: 林先生
應用
X射線熒光鍍層測厚儀，有著快速，準確，非破壞，非接觸，多層合金測量，高生產力，高再現性等優點的情況下進行表面鍍層厚度的測量，從質量管理到成本節約有著廣泛的應用
行業
用于電子元器件，半導體，PCB，汽車零部件，功能性電鍍，裝飾件，連接器……多個行業表面鍍層厚度的測量
聯系: 林先生
CMI做為***品牌在PCB及電鍍行業已形成一個行業標準，華南地區90%以上的大型企業都在使用CMI900系列做為檢測鍍層厚度的行業工具
X-熒光鍍層測厚儀CMI900 金屬鍍層厚度的**測量
X-熒光鍍層測厚儀CMI900 金屬鍍層厚度的**測量
CMI 900 系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應用于材料的涂/鍍層
厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域，為產品質量控制提供準確、快速的分析.基于Windows XP
中文視窗系統的中文版 SmartLink FP 應用軟件包，實現了對CMI900主機的**自動化控制，
厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域，為產品質量控制提供準確、快速的分析.基于Windows XP
中文視窗系統的中文版 SmartLink FP 應用軟件包，實現了對CMI900主機的**自動化控制，
技術參數：
CMI 900 X-射線熒光鍍層厚度測量儀,在技術上一直以來都*于的測厚行業
A CMI 900 能夠測量包含原子序號22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜,極薄的浸液鍍層（銀、金、鈀、錫等）和其它薄鍍層。區別材料并定性或定量測量合金材料的成份百分含量可同時測定*多5層、15 種元素。
B ：**度*于世界，**到0。025um (相對與標準片)
C ：數據統計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求 ；
如在分析報告中插入數據圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。
D ：統計功能提供數據平均值、誤差分析、*大值、*小值、數據變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數據分析模式。
CMI900系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品；
E ：可測量任一測量點，*小可達0.025 x 0.051毫米
A CMI 900 能夠測量包含原子序號22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜,極薄的浸液鍍層（銀、金、鈀、錫等）和其它薄鍍層。區別材料并定性或定量測量合金材料的成份百分含量可同時測定*多5層、15 種元素。
B ：**度*于世界，**到0。025um (相對與標準片)
C ：數據統計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求 ；
如在分析報告中插入數據圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。
D ：統計功能提供數據平均值、誤差分析、*大值、*小值、數據變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數據分析模式。
CMI900系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品；
E ：可測量任一測量點，*小可達0.025 x 0.051毫米
樣品臺選擇：
CMI900系列采用開槽式樣品室，以方便對大面積線路板樣品的測量。它可提供五種規格的樣品臺供用戶選用，分別為：
一：手動樣品臺
1 標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。
2 擴展型標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。
3 可調高度型標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。
CMI900系列采用開槽式樣品室，以方便對大面積線路板樣品的測量。它可提供五種規格的樣品臺供用戶選用，分別為：
一：手動樣品臺
1 標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。
2 擴展型標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。
3 可調高度型標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。
二：自動樣品臺
1 程控樣品臺：XYZ軸自動控制。
2 超寬程控樣品臺：XYZ軸自動控制。
1 程控樣品臺：XYZ軸自動控制。
2 超寬程控樣品臺：XYZ軸自動控制。
CMI900主要技術規格如下：
No. 主要規格 規格描述
1 X射線激發系統 垂直上照式X射線光學系統
空冷式微聚焦型X射線管，Be窗
標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等
功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－標準 X射線管功率可編程控制
裝備有安全防射線光閘
2 濾光片程控交換系統 根據靶材，標準裝備有相應的一次X射線濾光片系統
二次X射線濾光片：3個位置程控交換，Co、Ni、Fe、V等多種材質、多種厚度的二次濾光片任選
位置傳感器保護裝置，防止樣品碰創探測器窗口
3 準直器程控交換系統 *多可同時裝配6種規格的準直器，程序交換控制
多種規格尺寸準直器任選：－圓形，如4、6、8、12、20 mil等－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
4 測量斑點尺寸 在12.7mm聚焦距離時，*小測量斑點尺寸為：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm準直器)
在12.7mm聚焦距離時，*大測量斑點尺寸為：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準直器)
5 X射線探測系統 封氣正比計數器
裝備有峰漂移自動校正功能的高速信號處理電路
6 樣品室 CMI900 (選配)
－樣品室結構 開槽式樣品室
－*大樣品臺尺寸 610mm x 610mm
－XY軸程控移動范圍 標準：152.4 x 177.8mm任選：50.8mm x 152.4mm 50.4mm x 177.8mm 101.6 x 177.8mm 177.8 x 177.8mm 610mm x 610mm
－Z軸程控移動高度 43.18mm XYZ程控時，152.4mmXY軸手動時，269.2mm
－XYZ三軸控制方式 多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制
No. 主要規格 規格描述
1 X射線激發系統 垂直上照式X射線光學系統
空冷式微聚焦型X射線管，Be窗
標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等
功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－標準 X射線管功率可編程控制
裝備有安全防射線光閘
2 濾光片程控交換系統 根據靶材，標準裝備有相應的一次X射線濾光片系統
二次X射線濾光片：3個位置程控交換，Co、Ni、Fe、V等多種材質、多種厚度的二次濾光片任選
位置傳感器保護裝置，防止樣品碰創探測器窗口
3 準直器程控交換系統 *多可同時裝配6種規格的準直器，程序交換控制
多種規格尺寸準直器任選：－圓形，如4、6、8、12、20 mil等－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
4 測量斑點尺寸 在12.7mm聚焦距離時，*小測量斑點尺寸為：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm準直器)
在12.7mm聚焦距離時，*大測量斑點尺寸為：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準直器)
5 X射線探測系統 封氣正比計數器
裝備有峰漂移自動校正功能的高速信號處理電路
6 樣品室 CMI900 (選配)
－樣品室結構 開槽式樣品室
－*大樣品臺尺寸 610mm x 610mm
－XY軸程控移動范圍 標準：152.4 x 177.8mm任選：50.8mm x 152.4mm 50.4mm x 177.8mm 101.6 x 177.8mm 177.8 x 177.8mm 610mm x 610mm
－Z軸程控移動高度 43.18mm XYZ程控時，152.4mmXY軸手動時，269.2mm
－XYZ三軸控制方式 多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制
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