激光納米粒子粒度分析儀PA-200X基于動態光散射原理采用光子相關技術制造的納米激光粒度儀,廣泛用于納米顆粒粒徑粒度分析測試。
激光納米粒子粒度分析儀PA-200X基于布朗運動原理，粒徑小，速度快，粒徑大，速度慢。它采用濱松光電倍增管和自行研制的高速數字相關器作為核心部件，強大的性能，通過測試在一定角度的光的變化，散射得到的擴散系數，并根據stokes Einstein方程計算出粒徑及分布。該機具有計算速度快、精度高的特點，分辨率高，精度高，重復性好。
激光納米粒子粒度分析儀PA-200X特點：
*的測試原理
動態光散射技術，它可以使納米顆粒的原始狀態，保證真實性和試驗結果的有效性。
高靈敏度和噪聲信號比
探測器由濱松光電倍增管，從而保證良好的精度。
高速數據采集
自主研發的product-cr256數字相關，它可以完成動態散射光強的采集和自相關函數的計算，有效地反映動態散射光信息的不同尺寸的顆粒。
高穩定光系統
光子相關光譜檢測系統采用光纖技術，體積小，抗力強，可靠性高。
高精度恒溫控制系統
半導體激光器的溫度控制技術，精度控制在±0.2攝氏度，使樣品在恒定的狀態，在整個測試過程中，防止由于溫度變化測試誤差會改變液體的粘度和布朗運動速度。
激光納米粒子粒度分析儀PA-200X應用：
納米金屬氧化物，納米金屬粉末，納米陶瓷材料，蛋白質，聚合物乳液、制備藥物、水/油乳液、涂料、涂料、顏料、油墨、色粉、化妝品等納米材料的研究、制備和應用等領域。
激光納米粒子粒度分析儀PA-200X規格參數
| 粒徑測量范圍 | 1-10000nm |
| 顆粒濃度范圍 | 0.1mg/ml--100mg/ml |
| 精度 | <1%( 標準樣品平均粒徑) |
| 重復精度 | <1%(標準樣品平均粒徑) |
| 光源 | 半導體激光 532nm |
| 探測器 | HAMAMATSU光電倍增管 |
| 散射角度 | 90度 |
| 樣品池 | 4mL |
| 溫度控制 | 5-40攝氏度C |
| 測試速度 | <5分鐘 |
| 尺寸 | L48cm x W27cm x H17cm |
| 重量 | 12Kg |
| 數字相關器 | 256通道 |
| 操作系統 | Win XP/Win 7 |
| 分析參數 | 平均粒徑，粒子分布，光子計數. |
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