ADEV近紅外水分儀8000IR
ADEV 8000IR 近紅外水分儀技術參數詳解
核心測量原理:
ADEV 8000IR 近紅外水分儀基于分子光譜學的原理,專門針對水分子中氫-氧鍵對特定波長近紅外光(1940nm)的強吸收特性設計。該儀器通過測量反射回的近紅外光能量衰減量,逆向計算出物料中的水分含量,實現了高精度、非破壞性的水分檢測。
ADEV近紅外水分儀8000IR關鍵技術特性:
- 測量范圍與精度:
- 測量范圍:廣泛覆蓋0%至80%的含水率,具體范圍根據被測物料特性而定。
- 測量精度:達到業界**的0.1%至0.3%誤差率,確保數據準確可靠。
- **探測技術:
- 采用雙探測器同步探測技術,結合六波長測試原理,提升測量穩定性和精度。
- 高分辨率與快速響應:
- 分辨率:高達0.01%,精細捕捉水分微小變化。
- 測量速度:僅需0.01秒即可完成一次測量,實現實時快速檢測。
- 靈活標定與濾波:
- ADEV近紅外水分儀8000IR支持快速標定、預標定功能,減少校準時間與復雜度,且無需日常重復標定。
- 提供線性或指數濾波選項(0.1-180秒可調),有效濾除干擾信號,提升數據質量。
- 豐富輸出接口:
- 模擬輸出:兩組4-20mA電流信號,輕松連接PLC或數顯表,便于系統集成。
- 通訊輸出:兩組RS485數字信號接口,支持遠程監控與數據傳輸。
- 存儲與管理:
- ADEV近紅外水分儀8000IR標定檔案:內置大容量存儲空間,可保存50至100個標定檔案,便于數據管理與追溯。
- 環境適應性與耐用性:
- 工作溫度:適用于0-50℃的廣泛溫度范圍,確保設備在各種環境下穩定運行。
- 電源要求:兼容110-230V寬電壓輸入,通用。
- 傳感器構造:采用不銹鋼外殼,達到IP65防護等級,防塵防水,易于清潔維護。
- 便捷維護設計:
- 配備清潔吹掃接口,直徑6mm,支持0.5-1Bar壓縮空氣吹掃,有效防止傳感器積塵,保持測量準確性。
ADEV 8000IR 近紅外水分儀以其的技術原理、**的測量性能以及人性化的設計,成為工業領域中水分檢測的理想選擇。








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