奧林巴斯偏光顯微鏡BX53P

使用UIS2無*遠校正光學系統和*特的光學設計組合的奧林巴斯BX53-P偏光顯微鏡在偏光應用時提供了*越的性能。可擴展的補償器使BX53-P有足夠多的功能來處理任何相關領域中的觀察和測量應用。

UIS2光學元件提供了出s的可擴展性

奧林巴斯偏光顯微鏡BX53-P無*遠校正的優勢UIS2光學系統防止了光學顯微鏡性能的降低，消*了對顯微鏡光學放大倍數的影響，即使在光路中插入偏光元件，比如起偏振片、色板或補償器。在保持高水平系統靈活性的同時，BX53-P也兼容BX3系列系統顯微鏡的中間附件，以及相機和成像系統。

石英閃長巖中斜長石的帶狀結構標尺顯示樣本的實際大小

MBBA光學結構 *標尺顯示標本的實際大小

偏光特性的升級

ACHN-P和UPLFLN-P物鏡中使用的精巧設計和生產技術與顯微鏡完*結合。BX53-P偏光顯微鏡在起偏振片和檢偏振片里配備了高EF值濾色片，提供了無y倫b的圖像對比度。為滿足研究和應用的多樣化要求，萬n型UPLFLN-P系列物鏡采用了適用于多種觀察方法的設計，包括Nomarski DIC和熒光顯微鏡觀察以及偏光觀察。

* EF（衰減系數）是平行和交叉偏光濾色片之間的亮度比。EF值越高，消光效果就越好。

種類多樣的補償器

奧林巴斯BX53-P顯微鏡可以使用6種不同的補償器，能夠測量多種水平延遲，范圍從0到20λ。為使測量更容易，還提供了直接讀數法。使用Senarmont*或Brace-Koehler補償器可以獲得更高的圖像對比度，以改變整個視野里的延遲水平。

* 與綠色濾色片IF 546或IF 550。