樣品為LED支架,檢測表面雜質(zhì)劃痕等缺陷,通過四面可調(diào)光源,可單獨調(diào)整每個光源的角度,避免了環(huán)形光在四個角度圖像較暗的情況,得到均勻的圖像,利于軟件分析判斷
使用光源：CB4-200-W
效果圖
LED支架表面雜質(zhì)劃痕缺陷檢測
產(chǎn)品二維碼| 參 考 價: | 面議 |
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樣品為LED支架,檢測表面雜質(zhì)劃痕等缺陷,通過四面可調(diào)光源,可單獨調(diào)整每個光源的角度,避免了環(huán)形光在四個角度圖像較暗的情況,得到均勻的圖像,利于軟件分析判斷
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