掃描型紫外可見分光光度計佑科UV756
一、掃描型紫外可見分光光度計佑科UV756可根據設置波長自動保存樶新波長,比普通同類產品相比增加了測量的穩定性。可測量光程為100mm,能夠保存200條校準曲線。可根據標準模式或輸入標準模式建立定量分析方式,還可選擇安裝與電腦連接的軟件裝置。

二、掃描型紫外可見分光光度計佑科UV756產品特點:
1.采用1200條/mm高性能光柵。新型的光源控制系統,使儀器光源切換更快速。
2.精確的2nm帶寬,使測試數據更準確。使用進口長壽命光源,減輕用戶耗材的消耗。
3.的波長控制系統,使波長精度更高。改良的光學系統,使測試更準確。
4.采用進口的光電轉換器,使儀器的靈敏度更高。
5.新型的微電腦數據處理系統。使儀器的使用更加便捷,穩定性也更好。
6.儀器采用126×64位點陣液晶顯示器,可直接顯示標準曲線和測試數據,主機可儲存測試數據,并可選配打印機。
7.儀器可選配獲得國家的圓盤旋轉式自動八連樣品架,可靠性好,光斑居中(相比雙排自動八聯架),從而儀器測光精度高。(號:ZL 2010 2 0562307.8)。
三、掃描型紫外可見分光光度計佑科UV756與UV759參數對比:
| 產品型號 | UV756(UV756CRT) | UV759(UV759CRT) |
| 波長范圍 | 190-1100nm | 190-1100nm |
| 波長準確度 | ±0.5nm | ±0.3nm |
| 波長重復性 | 0.2nm | 0.1nm |
| 光譜帶寬 | 2nm | 1.8nm |
| 透射比準確率 | ±0.5%T | ±0.3%T |
| 透射比重復性 | 0.2%T | 0.1%T |
| 基線平直度 | 0.001A/h | 0.001A/h |
| 光度范圍 | -3-3A,0-200%T,0-9999C | -3-3A,0-200%T,0-9999C |
| 雜散光 | 0.05%T@220nm/360nm | 0.05%T@220nm/360nm |
| 穩定性 | ±0.001A/h@500nm | ±0.001A/h@500nm |
| 顯示方式 | 128×64位點陣液晶顯示 | 128×64位點陣液晶顯示 |
| RS232通訊 | USB接口 | USB接口 |
| 打印機 | 選配 | 選配 |
| 分析軟件 | 支持 | 支持 |
| 自動八聯比色池 | 選配 | 選配 |
| 光學系統 | 雙光束比例監測 | 雙光束比例監測 |
| 噪聲水平 | ±0.001A/2min@500nm | ±0.001A/2min@500nm |
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