標(biāo)題：波前探測(cè)器,波前分析儀應(yīng)用
標(biāo)題2：法國(guó)Phasics 波前傳感器應(yīng)用
標(biāo)題3：波前分析儀在鏡頭測(cè)試，光學(xué)表面，成像，MTF函數(shù)測(cè)量，激光參數(shù)測(cè)量的應(yīng)用
Phasics公司基于的高分辨率波前傳感技術(shù)，提供了的測(cè)量和成像解決方案。
其相變測(cè)試能力在波前測(cè)量和四波橫向剪切干涉儀分析中均處于地位。對(duì)于每種應(yīng)用，級(jí)軟件包均提供完整且相關(guān)的分析，以充分利用高分辨率波前測(cè)量。Phasics著眼于客戶，著眼于滿足所有需求；其*的研發(fā)團(tuán)隊(duì)不斷開發(fā)功能，并根據(jù)客戶要求定制標(biāo)準(zhǔn)配置。
法國(guó)Phasics SID4 波前傳感器系列在激光參數(shù)測(cè)試上的應(yīng)用（作為光斑分析儀）：
Phasics波前傳感器可同時(shí)提供高分辨率的相位圖和強(qiáng)度圖。 它與SID4軟件結(jié)合使用，可以對(duì)激光束進(jìn)行參數(shù)測(cè)試報(bào)告：波前像差，激光束參數(shù)，光束輪廓，M2光束質(zhì)量參數(shù)等等參數(shù)。其緊湊的設(shè)計(jì)可以直接定位在激光光束的任何位置，因此它可以直接測(cè)量發(fā)散光束。緊湊且易于對(duì)準(zhǔn)，無(wú)中繼透鏡的發(fā)散光束測(cè)量，光束輪廓。
對(duì)于大功率激光工程師
-設(shè)計(jì)并保證的激光參數(shù)質(zhì)量
-實(shí)驗(yàn)前檢查激光
對(duì)于激光制造商：
-在研發(fā)或生產(chǎn)中進(jìn)行快速的光束質(zhì)量控制（包括M2）
-SID4可用于400nm-1000nm 的激光的波前像差，強(qiáng)度分布，波前位相、澤尼克參數(shù), 激光的M2值等參數(shù)進(jìn)行實(shí)時(shí)的測(cè)量及參數(shù)輸出。
適用于任何激光器
-連續(xù)到脈沖激光器
-UV到遠(yuǎn)紅外
-寬帶激光器，例如OPO激光器，飛秒激光器
法國(guó)Phasics SID4 波前相差儀特點(diǎn)：
-全光束特征(具有高分辨率的相位+強(qiáng)度)包括：像差（Zernike，Legendre),PSF，斯特列爾比，環(huán)繞能量,光束輪廓
-符合ISO 11146標(biāo)準(zhǔn)的M2測(cè)量：一次性測(cè)得;適用于任何激光，包括飛秒激光.
-在激光的任何點(diǎn)均進(jìn)行測(cè)試：緊湊且易于對(duì)準(zhǔn)，無(wú)需中繼透鏡即可進(jìn)行發(fā)散光束測(cè)量，光束輪廓
-圓形或矩形瞳孔，多通道測(cè)試，傾斜光束
法國(guó)Phasics SID4 Element，SID4Bio，SID4-sC8波前分析儀在成像上的應(yīng)用：
Phasics引入了光學(xué)顯微鏡的新形式：定量相位成像（QPI）。該解決方案包括一個(gè)類似于照相機(jī)的儀器，該儀器可與所有標(biāo)準(zhǔn)顯微鏡兼容，并具有適合許多應(yīng)用的軟件套件。主要的原理是：每個(gè)樣本在光傳播時(shí)都會(huì)在光路上產(chǎn)生延遲。 該延遲量（相移或光程差）可通過相位技術(shù)測(cè)量，由此此獲得圖像，對(duì)于該圖像，每個(gè)像素值是所測(cè)量的局部相移。像素值與物理厚度和樣本局部折射率有關(guān)。
生命科學(xué)：細(xì)胞學(xué)，無(wú)單細(xì)胞成像，組織學(xué)等方面。 它可以輕松地對(duì)標(biāo)本（例如活細(xì)胞，組織或任何其他半透明標(biāo)本）進(jìn)行無(wú)標(biāo)簽成像。 它提供了無(wú)偽影的定量相圖像，可測(cè)量有價(jià)值的參數(shù)：形態(tài)，干重，單個(gè)細(xì)胞的密度 它適用于癌癥和研究，篩查，血液檢查 智能儀器只需插入任何光學(xué)儀器即可。易于多模態(tài)的設(shè)置，例如相熒光組合。
熱成像：Phasics提出的使用四波剪切干涉儀（TIQSI）解決方案的熱成像技術(shù)使用高分辨率波前傳感器，該傳感器與任何具有自然寬帶照明條件的顯微鏡兼容，并帶有任何附加的激光模塊。 熱成像顯微鏡技術(shù)可以研究細(xì)胞生物學(xué)，物理學(xué)和化學(xué)領(lǐng)域的各種應(yīng)用。所使用的熱成像技術(shù)是菲涅耳研究所（G. Baffou）博士與Phasics SA合作開發(fā)的一種非侵入式熱顯微鏡技術(shù)，能夠?qū)⒄彰骷{米結(jié)構(gòu)產(chǎn)生的熱量表征為納米級(jí)。TIQSI基于對(duì)已知介質(zhì)的熱誘導(dǎo)折射率變化的測(cè)量，該測(cè)量是通過波前測(cè)量將其轉(zhuǎn)換為溫度變化值。
材料檢查：折射率分析，波導(dǎo)測(cè)量，表面檢查，LIDT評(píng)估等等方面。定量相位成像（QPI）技術(shù)非常適合用作半透明樣品的折射率測(cè)量，具有準(zhǔn)確且無(wú)損的優(yōu)勢(shì)。 QPI技術(shù)可以在半透。明樣品（例如玻璃）中提供具有亞納米級(jí)精度的波導(dǎo)的折射率分布。 對(duì)于LIDT技術(shù)，目標(biāo)是檢測(cè)材料表面特征中激光引起的變化。 QWSLI技術(shù)的優(yōu)勢(shì)在于可以進(jìn)行原位表面分析。
法國(guó)Phasics Kaleo MTF測(cè)試儀在透鏡質(zhì)量控制以及光學(xué)表面測(cè)試的應(yīng)用：
Phasics提供了的鏡頭測(cè)量原理,無(wú)需中繼透鏡即可直接測(cè)量波前。利用使用光傳播理論進(jìn)行計(jì)算：提供波前像差和MTF。不使用目標(biāo)就可以在任何頻率下獲得MTF。僅一次波前采集便可提供鏡頭質(zhì)量參數(shù)：適用于任何頻率和方位的MTF（調(diào)制傳遞函數(shù)），TWE（傳輸?shù)牟ㄇ罢`差）和像差（Zernike系數(shù)）的測(cè)試，可同時(shí)設(shè)置的多個(gè)波長(zhǎng)進(jìn)行測(cè)試。擁有嚴(yán)格的MTF和TWE的離軸波前分析，并且可以在測(cè)量平面上與Zemax設(shè)計(jì)的比較。
總結(jié)：波前探測(cè)主要是測(cè)量光束的相位變化，利用干涉的原理，得到干涉的圖樣對(duì)所測(cè)量的物體進(jìn)行無(wú)損探測(cè)。可探測(cè)激光光束的所有參數(shù)，應(yīng)用于成像方面：可用來做細(xì)胞組織的無(wú)熒光標(biāo)記成像，可用于熱成像以及材料的檢查。此外還可以用于光學(xué)透鏡質(zhì)量控制，光學(xué)表面測(cè)試。
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