Ux-2100 Plus開放式工作曲線
符合國標要求(GB/T 3352-2016),如果有特殊需求，使用標準物質制作工作曲線，應對其他樣品的測試。測試條件同樣開放,用于設置對應樣品的測試需求。
X熒光光譜儀（XRF）由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發被測樣品，產生X熒光（二次X射線），探測器對X熒光進行檢測。
采用半導體探測器和多道脈沖高度分析器可提高分辨本領，由微處理機處理，可同時惻定試樣中}o一sn種元素，分析速度快。
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Ux-2100Plus開放式工作曲線 符合國標要求(GB/T3352-2016),如果有特殊需求，使用標準物質制作工作曲線，應對其他樣品的測試
Ux-2100 Plus開放式工作曲線
符合國標要求(GB/T 3352-2016),如果有特殊需求，使用標準物質制作工作曲線，應對其他樣品的測試。測試條件同樣開放,用于設置對應樣品的測試需求。
X熒光光譜儀（XRF）由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發被測樣品，產生X熒光（二次X射線），探測器對X熒光進行檢測。
采用半導體探測器和多道脈沖高度分析器可提高分辨本領，由微處理機處理，可同時惻定試樣中}o一sn種元素，分析速度快。
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