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　　測鉛儀、測汞儀、測鉻儀、測鎘儀、測溴儀、測氯儀、rohs六項儀器

　　Ux-720探測系統

　　功能：對樣品特征X射線進行探測，將采集來的信號進行數據處理，并將處理結果傳輸給計算機。

　　類型：Si-PIN X-123(美國)

　　Be窗 1mil()

　　分辨率：145±5eV

　　系統峰背比：≥ 6200/1

　　能量響應范圍：1keV — 40keV

　　推薦計數率：5000cps

　　鍍層厚度測量已成為加工工業、表面工程質量檢測的重要環節，是產品達到優等質量標準的必要手段。為使產品國際化，我國出口商品和涉外項目中，對鍍層厚度有了明確要求。

　　鍍層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。

　　Ux-720 儀器技術指標

　　1、分析元素范圍：Na-U

　　2、檢測成分范圍：%

　　3、檢測厚度：1nm

　　4、檢測厚度上限，30 - 50um（視材料而定）

　　5、檢測鍍層層數：1-10層

　　6、測量時間 ：30-150s ( 系統自動調整 )

　　7、分辨率：145±5eV

　　8、準直器：Φ、Φ1mm、Φ2mm、Φ4mm自動切換

　　9、濾光片：5種濾光片自動切換

　　10、CCD觀察：260萬像素高清CCD

　　11、樣品微動范圍：XY15mm

　　12、儀器尺寸：680(W)x400(D)x390(H)mm

　　13、樣品腔尺寸：300*360*100mm；

　　14、輸入電源：AC220V～240V，50/60Hz

　　15、額定功率：350W

　　16、重量：約45Kg

　　17、工作環境溫度：溫度15—30℃

　　18、工作環境相對濕度：≤85%（不結露）

　　19、穩定性:多次測量重復性誤差小于%